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本系統專(zhuān)為科研用戶(hù)設計，系統擴展性好，可以這對不同客戶(hù)性能需求更改系統配置，主要用途：測試納米顆粒散射光譜，通過(guò)散射光譜測試判斷顆粒大小和形狀。
可測試顆粒最小可達幾十納米，目前主要用戶(hù)有：南京大學(xué)，華東理工大學(xué)，中國科學(xué)院應用物理研究所，南京郵件大學(xué)等等。

采用nikon或olympus科研級熒光倒置顯微鏡，配合PI公司科研級光譜儀和CCD，采用光譜CCD取微區，可以同時(shí)測試多個(gè)顆粒。

系統性能：
1、顯微鏡配 10x，40x，60x物鏡
2、光譜分辨率：0.05nm
3、波長(cháng)范圍：a、單顆粒光譜測試范圍：200-1100nm，整體測試波長(cháng)范圍：200nm-12um
3、選配電動(dòng)位移臺

成果展示：